Measurement of the branching fraction scrB(τ-→h- →π0ντ)

M. Artuso, M. Goldberg, D. He, N. Horwitz, R. Kennett, R. Mountain, G. C. Moneti, F. Muheim, Y. Mukhin, S. Playfer, Y. Rozen, S. Stone, M. Thulasidas, G. Vasseur, X. Xing, G. Zhu, J. Bartelt, S. E. Csorna, Z. Egyed, V. JainK. Kinoshita, B. Barish, M. Chadha, S. Chan, D. F. Cowen, G. Eigen, J. S. Miller, C. O'Grady, J. Urheim, A. J. Weinstein, D. Acosta, M. Athanas, G. Masek, H. P. Paar, M. Sivertz, J. Gronberg, R. Kutschke, S. Menary, R. J. Morrison, S. Nakanishi, H. N. Nelson, T. K. Nelson, C. Qiao, J. D. Richman, A. Ryd, H. Tajima, D. Sperka, M. S. Witherell, M. Procario, R. Balest, K. Cho, M. Daoudi, W. T. Ford, D. R. Johnson, K. Lingel, M. Lohner, P. Rankin, J. G. Smith, J. P. Alexander, C. Bebek, K. Berkelman, K. Bloom, T. E. Browder, D. G. Cassel, H. A. Cho, D. M. Coffman, D. S. Crowcroft, P. S. Drell, R. Ehrlich, P. Gaidarev, R. S. Galik, M. Garcia-Sciveres, B. Geiser, B. Gittelman, S. W. Gray, D. L. Hartill, B. K. Heltsley, C. D. Jones, S. L. Jones, J. Kandaswamy, N. Katayama, P. C. Kim, D. L. Kreinick, G. S. Ludwig, J. Masui, J. Mevissen, N. B. Mistry, C. R. Ng, E. Nordberg, J. R. Patterson, D. Peterson, D. Riley, S. Salman, M. Sapper, F. Würthwein, P. Avery, A. Freyberger, J. Rodriguez, R. Stephens, S. Yang, J. Yelton, D. Cinabro, S. Henderson, T. Liu, M. Saulnier, R. Wilson, H. Yamamoto, T. Bergfeld, B. I. Eisenstein, G. Gollin, B. Ong, M. Palmer, M. Selen, J. J. Thaler, K. W. Edwards, M. Ogg, B. Spaan, A. Bellerive, D. I. Britton, E. R.F. Hyatt, D. B. MacFarlane, P. M. Patel, A. J. Sadoff, R. Ammar, S. Ball, P. Baringer, A. Bean, D. Besson, D. Coppage, N. Copty, R. Davis, N. Hancock, M. Kelly, S. Kotov, I. Kravchenko, N. Kwak, H. Lam, Y. Kubota, M. Lattery, M. Momayezi, J. K. Nelson, S. Patton, D. Perticone, R. Poling, V. Savinov, S. Schrenk, R. Wang, M. S. Alam, I. J. Kim, B. Nemati, J. J. O'Neill, H. Severini, C. R. Sun, M. M. Zoeller, G. Crawford, C. M. Daubenmier, R. Fulton, D. Fujino, K. K. Gan, K. Honscheid, H. Kagan, R. Kass, J. Lee, R. Malchow, Y. Skovpen, M. Sung, C. White, F. Butler, X. Fu, G. Kalbfleisch, W. R. Ross, P. Skubic, M. Wood, J. Fast, R. L. McIlwain, T. Miao, D. H. Miller, M. Modesitt, D. Payne, E. I. Shibata, I. P.J. Shipsey, P. N. Wang, M. Battle, J. Ernst, L. Gibbons, Y. Kwon, S. Roberts, E. H. Thorndike, C. H. Wang, J. Dominick, M. Lambrecht, S. Sanghera, V. Shelkov, T. Skwarnicki, R. Stroynowski, I. Volobouev, G. Wei, P. Zadorozhny

Research output: Contribution to journalArticle

33 Citations (Scopus)

Abstract

Using data from the CLEO II detector at the Cornell Electron Storage Ring, we measure scrB(τ-→h-π0ντ) where h- refers to either π- or K-. We use three different methods to measure this branching fraction. The combined result is scrB(τ-→h-π0ντ)=0.2587±0. 0012±0.0042, in good agreement with standard model predictions.

Original languageEnglish
Pages (from-to)3762-3766
Number of pages5
JournalPhysical review letters
Volume72
Issue number24
DOIs
Publication statusPublished - 1994

All Science Journal Classification (ASJC) codes

  • Physics and Astronomy(all)

Fingerprint Dive into the research topics of 'Measurement of the branching fraction scrB(τ-→h- →π0ντ)'. Together they form a unique fingerprint.

  • Cite this

    Artuso, M., Goldberg, M., He, D., Horwitz, N., Kennett, R., Mountain, R., Moneti, G. C., Muheim, F., Mukhin, Y., Playfer, S., Rozen, Y., Stone, S., Thulasidas, M., Vasseur, G., Xing, X., Zhu, G., Bartelt, J., Csorna, S. E., Egyed, Z., ... Zadorozhny, P. (1994). Measurement of the branching fraction scrB(τ-→h- →π0ντ). Physical review letters, 72(24), 3762-3766. https://doi.org/10.1103/PhysRevLett.72.3762