Measurement of the electroweak penguin process B → Xsℓ+ℓ-

J. Kaneko; K. Abe; K. Abe; T. Abe; I. Adachi; B. S. Ahn; H. Aihara; M. Akatsu; Y. Asano; T. Aso; V. Aulchenko; T. Aushev; A. M. Bakich; Y. Ban; E. Banas; W. Bartel; A. Bay; P. K. Behera; A. Bondar; A. Bozek; M. Bračko; J. Brodzicka; T. E. Browder; B. C.K. Casey; P. Chang; Y. Chao; K. F. Chen; B. G. Cheon; R. Chistov; Y. Choi; Y. K. Choi; M. Danilov; L. Y. Dong; S. Eidelman; V. Eiges; Y. Enari; C. W. Everton; F. Fang; H. Fujii; C. Fukunaga; N. Gabyshev; A. Garmash; T. Gershon; R. Guo; J. Haba; F. Handa; T. Hara; Y. Harada; N. C. Hastings; H. Hayashii; M. Hazumi; E. M. Heenan; I. Higuchi; T. Higuchi; L. Hinz; T. Hojo; Y. Hoshi; W. S. Hou; H. C. Huang; T. Igaki; Y. Igarashi; T. Iijima; K. Inami; A. Ishikawa; H. Ishino; R. Itoh; H. Iwasaki; Y. Iwasaki; H. K. Jang; J. H. Kang; J. S. Kang; N. Katayama; H. Kawai; Y. Kawakami; N. Kawamura; T. Kawasaki; H. Kichimi; D. W. Kim; Heejong Kim; H. J. Kim; H. O. Kim; Hyunwoo Kim; S. K. Kim; K. Kinoshita; S. Kobayashi; S. Korpar; P. Križan; P. Krokovny; R. Kulasiri; S. Kumar; Y. J. Kwon; J. S. Lange; G. Leder; S. H. Lee; J. Li; A. Limosani; R. S. Lu; J. MacNaughton; G. Majumder; F. Mandl; D. Marlow; S. Matsumoto; T. Matsumoto; W. Mitaroff; K. Miyabayashi; Y. Miyabayashi; H. Miyake; G. R. Moloney; T. Mori; T. Nagamine; Y. Nagasaka; T. Nakadaira; E. Nakano; M. Nakao; J. W. Nam; K. Neichi; S. Nishida; O. Nitoh; S. Noguchi; T. Nozaki; S. Ogawa; T. Ohshima; T. Okabe; S. Okuno; S. L. Olsen; Y. Onuki; W. Ostrowicz; H. Ozaki; P. Pakhlov; H. Palka; C. W. Park; H. Park; K. S. Park; J. P. Perroud; M. Peters; L. E. Piilonen; N. Root; K. Rybicki; H. Sagawa; Y. Sakai; H. Sakamoto; M. Satapathy; A. Satpathy; O. Schneider; S. Schrenk; C. Schwanda; S. Semenov; K. Senyo; R. Seuster; H. Shibuya; B. Shwartz; V. Sidorov; J. B. Singh; N. Soni; S. Stanič; K. Sumisawa; T. Sumiyoshi; K. Suzuki; S. Suzuki; S. Y. Suzuki; S. K. Swain; H. Tajima; T. Takahashi; F. Takasaki; K. Tamai; N. Tamura; J. Tanaka; M. Tanaka; G. N. Taylor; Y. Teramoto; S. Tokuda; M. Tomoto; T. Tomura; K. Trabelsi; W. Trischuk; T. Tsuboyama; T. Tsukamoto; S. Uehara; K. Ueno; S. Uno; Y. Ushiroda; G. Varner; K. E. Varvell; C. C. Wang; C. H. Wang; J. G. Wang; M. Z. Wang; Y. Watanabe; E. Won; B. D. Yabsley; Y. Yamada; A. Yamaguchi; Y. Yamashita; M. Yamauchi; H. Yanai; J. Yashima; M. Yokoyama; Y. Yuan; Y. Yusa; C. C. Zhang; J. Zhang; Z. P. Zhang; Y. Zheng; V. Zhilich; D. Žontar

Measurement of the electroweak penguin process B → X_sℓ⁺ℓ^-

J. Kaneko, K. Abe, K. Abe, T. Abe, I. Adachi, B. S. Ahn, H. Aihara, M. Akatsu, Y. Asano, T. Aso, V. Aulchenko, T. Aushev, A. M. Bakich, Y. Ban, E. Banas, W. Bartel, A. Bay, P. K. Behera, A. Bondar, A. BozekM. Bračko, J. Brodzicka, T. E. Browder, B. C.K. Casey, P. Chang, Y. Chao, K. F. Chen, B. G. Cheon, R. Chistov, Y. Choi, Y. K. Choi, M. Danilov, L. Y. Dong, S. Eidelman, V. Eiges, Y. Enari, C. W. Everton, F. Fang, H. Fujii, C. Fukunaga, N. Gabyshev, A. Garmash, T. Gershon, R. Guo, J. Haba, F. Handa, T. Hara, Y. Harada, N. C. Hastings, H. Hayashii, M. Hazumi, E. M. Heenan, I. Higuchi, T. Higuchi, L. Hinz, T. Hojo, Y. Hoshi, W. S. Hou, H. C. Huang, T. Igaki, Y. Igarashi, T. Iijima, K. Inami, A. Ishikawa, H. Ishino, R. Itoh, H. Iwasaki, Y. Iwasaki, H. K. Jang, J. H. Kang, J. S. Kang, N. Katayama, H. Kawai, Y. Kawakami, N. Kawamura, T. Kawasaki, H. Kichimi, D. W. Kim, Heejong Kim, H. J. Kim, H. O. Kim, Hyunwoo Kim, S. K. Kim, K. Kinoshita, S. Kobayashi, S. Korpar, P. Križan, P. Krokovny, R. Kulasiri, S. Kumar, Y. J. Kwon, J. S. Lange, G. Leder, S. H. Lee, J. Li, A. Limosani, R. S. Lu, J. MacNaughton, G. Majumder, F. Mandl, D. Marlow, S. Matsumoto, T. Matsumoto, W. Mitaroff, K. Miyabayashi, Y. Miyabayashi, H. Miyake, G. R. Moloney, T. Mori, T. Nagamine, Y. Nagasaka, T. Nakadaira, E. Nakano, M. Nakao, J. W. Nam, K. Neichi, S. Nishida, O. Nitoh, S. Noguchi, T. Nozaki, S. Ogawa, T. Ohshima, T. Okabe, S. Okuno, S. L. Olsen, Y. Onuki, W. Ostrowicz, H. Ozaki, P. Pakhlov, H. Palka, C. W. Park, H. Park, K. S. Park, J. P. Perroud, M. Peters, L. E. Piilonen, N. Root, K. Rybicki, H. Sagawa, Y. Sakai, H. Sakamoto, M. Satapathy, A. Satpathy, O. Schneider, S. Schrenk, C. Schwanda, S. Semenov, K. Senyo, R. Seuster, H. Shibuya, B. Shwartz, V. Sidorov, J. B. Singh, N. Soni, S. Stanič, K. Sumisawa, T. Sumiyoshi, K. Suzuki, S. Suzuki, S. Y. Suzuki, S. K. Swain, H. Tajima, T. Takahashi, F. Takasaki, K. Tamai, N. Tamura, J. Tanaka, M. Tanaka, G. N. Taylor, Y. Teramoto, S. Tokuda, M. Tomoto, T. Tomura, K. Trabelsi, W. Trischuk, T. Tsuboyama, T. Tsukamoto, S. Uehara, K. Ueno, S. Uno, Y. Ushiroda, G. Varner, K. E. Varvell, C. C. Wang, C. H. Wang, J. G. Wang, M. Z. Wang, Y. Watanabe, E. Won, B. D. Yabsley, Y. Yamada, A. Yamaguchi, Y. Yamashita, M. Yamauchi, H. Yanai, J. Yashima, M. Yokoyama, Y. Yuan, Y. Yusa, C. C. Zhang, J. Zhang, Z. P. Zhang, Y. Zheng, V. Zhilich, D. Žontar

Department of Physics

Research output: Contribution to journal › Article › peer-review

74 Citations (Scopus)

Abstract

The branching fraction for the inclusive decay Β→X_sℓ⁺ℓ^- was measured. A data sample collected at the Υ(4S) resonance with the Bell detector at the KEKB e⁺e^- asymmetric-energy collider was used. Overall, the results are in agreement with the standard model (SM) expectations and can be used to constrain extensions of the SM.

Original language	English
Article number	021801
Pages (from-to)	021801/1-021801/6
Journal	Physical review letters
Volume	90
Issue number	2
Publication status	Published - 2003 Jan 17

All Science Journal Classification (ASJC) codes

Physics and Astronomy(all)

Access to Document

Fingerprint Dive into the research topics of 'Measurement of the electroweak penguin process B → Xsℓ+ℓ-'. Together they form a unique fingerprint.

Cite this

Kaneko, J. ; Abe, K. ; Abe, K. ; Abe, T. ; Adachi, I. ; Ahn, B. S. ; Aihara, H. ; Akatsu, M. ; Asano, Y. ; Aso, T. ; Aulchenko, V. ; Aushev, T. ; Bakich, A. M. ; Ban, Y. ; Banas, E. ; Bartel, W. ; Bay, A. ; Behera, P. K. ; Bondar, A. ; Bozek, A. ; Bračko, M. ; Brodzicka, J. ; Browder, T. E. ; Casey, B. C.K. ; Chang, P. ; Chao, Y. ; Chen, K. F. ; Cheon, B. G. ; Chistov, R. ; Choi, Y. ; Choi, Y. K. ; Danilov, M. ; Dong, L. Y. ; Eidelman, S. ; Eiges, V. ; Enari, Y. ; Everton, C. W. ; Fang, F. ; Fujii, H. ; Fukunaga, C. ; Gabyshev, N. ; Garmash, A. ; Gershon, T. ; Guo, R. ; Haba, J. ; Handa, F. ; Hara, T. ; Harada, Y. ; Hastings, N. C. ; Hayashii, H. ; Hazumi, M. ; Heenan, E. M. ; Higuchi, I. ; Higuchi, T. ; Hinz, L. ; Hojo, T. ; Hoshi, Y. ; Hou, W. S. ; Huang, H. C. ; Igaki, T. ; Igarashi, Y. ; Iijima, T. ; Inami, K. ; Ishikawa, A. ; Ishino, H. ; Itoh, R. ; Iwasaki, H. ; Iwasaki, Y. ; Jang, H. K. ; Kang, J. H. ; Kang, J. S. ; Katayama, N. ; Kawai, H. ; Kawakami, Y. ; Kawamura, N. ; Kawasaki, T. ; Kichimi, H. ; Kim, D. W. ; Kim, Heejong ; Kim, H. J. ; Kim, H. O. ; Kim, Hyunwoo ; Kim, S. K. ; Kinoshita, K. ; Kobayashi, S. ; Korpar, S. ; Križan, P. ; Krokovny, P. ; Kulasiri, R. ; Kumar, S. ; Kwon, Y. J. ; Lange, J. S. ; Leder, G. ; Lee, S. H. ; Li, J. ; Limosani, A. ; Lu, R. S. ; MacNaughton, J. ; Majumder, G. ; Mandl, F. ; Marlow, D. ; Matsumoto, S. ; Matsumoto, T. ; Mitaroff, W. ; Miyabayashi, K. ; Miyabayashi, Y. ; Miyake, H. ; Moloney, G. R. ; Mori, T. ; Nagamine, T. ; Nagasaka, Y. ; Nakadaira, T. ; Nakano, E. ; Nakao, M. ; Nam, J. W. ; Neichi, K. ; Nishida, S. ; Nitoh, O. ; Noguchi, S. ; Nozaki, T. ; Ogawa, S. ; Ohshima, T. ; Okabe, T. ; Okuno, S. ; Olsen, S. L. ; Onuki, Y. ; Ostrowicz, W. ; Ozaki, H. ; Pakhlov, P. ; Palka, H. ; Park, C. W. ; Park, H. ; Park, K. S. ; Perroud, J. P. ; Peters, M. ; Piilonen, L. E. ; Root, N. ; Rybicki, K. ; Sagawa, H. ; Sakai, Y. ; Sakamoto, H. ; Satapathy, M. ; Satpathy, A. ; Schneider, O. ; Schrenk, S. ; Schwanda, C. ; Semenov, S. ; Senyo, K. ; Seuster, R. ; Shibuya, H. ; Shwartz, B. ; Sidorov, V. ; Singh, J. B. ; Soni, N. ; Stanič, S. ; Sumisawa, K. ; Sumiyoshi, T. ; Suzuki, K. ; Suzuki, S. ; Suzuki, S. Y. ; Swain, S. K. ; Tajima, H. ; Takahashi, T. ; Takasaki, F. ; Tamai, K. ; Tamura, N. ; Tanaka, J. ; Tanaka, M. ; Taylor, G. N. ; Teramoto, Y. ; Tokuda, S. ; Tomoto, M. ; Tomura, T. ; Trabelsi, K. ; Trischuk, W. ; Tsuboyama, T. ; Tsukamoto, T. ; Uehara, S. ; Ueno, K. ; Uno, S. ; Ushiroda, Y. ; Varner, G. ; Varvell, K. E. ; Wang, C. C. ; Wang, C. H. ; Wang, J. G. ; Wang, M. Z. ; Watanabe, Y. ; Won, E. ; Yabsley, B. D. ; Yamada, Y. ; Yamaguchi, A. ; Yamashita, Y. ; Yamauchi, M. ; Yanai, H. ; Yashima, J. ; Yokoyama, M. ; Yuan, Y. ; Yusa, Y. ; Zhang, C. C. ; Zhang, J. ; Zhang, Z. P. ; Zheng, Y. ; Zhilich, V. ; Žontar, D. / Measurement of the electroweak penguin process B → X_sℓ⁺ℓ^-. In: Physical review letters. 2003 ; Vol. 90, No. 2. pp. 021801/1-021801/6.

@article{6e741721c7d14163bf6cb24e67ec3ae0,

title = "Measurement of the electroweak penguin process B → Xsℓ+ℓ-",

abstract = "The branching fraction for the inclusive decay Β→Xsℓ+ℓ- was measured. A data sample collected at the Υ(4S) resonance with the Bell detector at the KEKB e+e- asymmetric-energy collider was used. Overall, the results are in agreement with the standard model (SM) expectations and can be used to constrain extensions of the SM.",

author = "J. Kaneko and K. Abe and K. Abe and T. Abe and I. Adachi and Ahn, {B. S.} and H. Aihara and M. Akatsu and Y. Asano and T. Aso and V. Aulchenko and T. Aushev and Bakich, {A. M.} and Y. Ban and E. Banas and W. Bartel and A. Bay and Behera, {P. K.} and A. Bondar and A. Bozek and M. Bra{\v c}ko and J. Brodzicka and Browder, {T. E.} and Casey, {B. C.K.} and P. Chang and Y. Chao and Chen, {K. F.} and Cheon, {B. G.} and R. Chistov and Y. Choi and Choi, {Y. K.} and M. Danilov and Dong, {L. Y.} and S. Eidelman and V. Eiges and Y. Enari and Everton, {C. W.} and F. Fang and H. Fujii and C. Fukunaga and N. Gabyshev and A. Garmash and T. Gershon and R. Guo and J. Haba and F. Handa and T. Hara and Y. Harada and Hastings, {N. C.} and H. Hayashii and M. Hazumi and Heenan, {E. M.} and I. Higuchi and T. Higuchi and L. Hinz and T. Hojo and Y. Hoshi and Hou, {W. S.} and Huang, {H. C.} and T. Igaki and Y. Igarashi and T. Iijima and K. Inami and A. Ishikawa and H. Ishino and R. Itoh and H. Iwasaki and Y. Iwasaki and Jang, {H. K.} and Kang, {J. H.} and Kang, {J. S.} and N. Katayama and H. Kawai and Y. Kawakami and N. Kawamura and T. Kawasaki and H. Kichimi and Kim, {D. W.} and Heejong Kim and Kim, {H. J.} and Kim, {H. O.} and Hyunwoo Kim and Kim, {S. K.} and K. Kinoshita and S. Kobayashi and S. Korpar and P. Kri{\v z}an and P. Krokovny and R. Kulasiri and S. Kumar and Kwon, {Y. J.} and Lange, {J. S.} and G. Leder and Lee, {S. H.} and J. Li and A. Limosani and Lu, {R. S.} and J. MacNaughton and G. Majumder and F. Mandl and D. Marlow and S. Matsumoto and T. Matsumoto and W. Mitaroff and K. Miyabayashi and Y. Miyabayashi and H. Miyake and Moloney, {G. R.} and T. Mori and T. Nagamine and Y. Nagasaka and T. Nakadaira and E. Nakano and M. Nakao and Nam, {J. W.} and K. Neichi and S. Nishida and O. Nitoh and S. Noguchi and T. Nozaki and S. Ogawa and T. Ohshima and T. Okabe and S. Okuno and Olsen, {S. L.} and Y. Onuki and W. Ostrowicz and H. Ozaki and P. Pakhlov and H. Palka and Park, {C. W.} and H. Park and Park, {K. S.} and Perroud, {J. P.} and M. Peters and Piilonen, {L. E.} and N. Root and K. Rybicki and H. Sagawa and Y. Sakai and H. Sakamoto and M. Satapathy and A. Satpathy and O. Schneider and S. Schrenk and C. Schwanda and S. Semenov and K. Senyo and R. Seuster and H. Shibuya and B. Shwartz and V. Sidorov and Singh, {J. B.} and N. Soni and S. Stani{\v c} and K. Sumisawa and T. Sumiyoshi and K. Suzuki and S. Suzuki and Suzuki, {S. Y.} and Swain, {S. K.} and H. Tajima and T. Takahashi and F. Takasaki and K. Tamai and N. Tamura and J. Tanaka and M. Tanaka and Taylor, {G. N.} and Y. Teramoto and S. Tokuda and M. Tomoto and T. Tomura and K. Trabelsi and W. Trischuk and T. Tsuboyama and T. Tsukamoto and S. Uehara and K. Ueno and S. Uno and Y. Ushiroda and G. Varner and Varvell, {K. E.} and Wang, {C. C.} and Wang, {C. H.} and Wang, {J. G.} and Wang, {M. Z.} and Y. Watanabe and E. Won and Yabsley, {B. D.} and Y. Yamada and A. Yamaguchi and Y. Yamashita and M. Yamauchi and H. Yanai and J. Yashima and M. Yokoyama and Y. Yuan and Y. Yusa and Zhang, {C. C.} and J. Zhang and Zhang, {Z. P.} and Y. Zheng and V. Zhilich and D. {\v Z}ontar",

year = "2003",

month = jan,

day = "17",

language = "English",

volume = "90",

pages = "021801/1--021801/6",

journal = "Physical Review Letters",

issn = "0031-9007",

publisher = "American Physical Society",

number = "2",

}

Kaneko, J, Abe, K, Abe, K, Abe, T, Adachi, I, Ahn, BS, Aihara, H, Akatsu, M, Asano, Y, Aso, T, Aulchenko, V, Aushev, T, Bakich, AM, Ban, Y, Banas, E, Bartel, W, Bay, A, Behera, PK, Bondar, A, Bozek, A, Bračko, M, Brodzicka, J, Browder, TE, Casey, BCK, Chang, P, Chao, Y, Chen, KF, Cheon, BG, Chistov, R, Choi, Y, Choi, YK, Danilov, M, Dong, LY, Eidelman, S, Eiges, V, Enari, Y, Everton, CW, Fang, F, Fujii, H, Fukunaga, C, Gabyshev, N, Garmash, A, Gershon, T, Guo, R, Haba, J, Handa, F, Hara, T, Harada, Y, Hastings, NC, Hayashii, H, Hazumi, M, Heenan, EM, Higuchi, I, Higuchi, T, Hinz, L, Hojo, T, Hoshi, Y, Hou, WS, Huang, HC, Igaki, T, Igarashi, Y, Iijima, T, Inami, K, Ishikawa, A, Ishino, H, Itoh, R, Iwasaki, H, Iwasaki, Y, Jang, HK, Kang, JH, Kang, JS, Katayama, N, Kawai, H, Kawakami, Y, Kawamura, N, Kawasaki, T, Kichimi, H, Kim, DW, Kim, H, Kim, HJ, Kim, HO, Kim, H, Kim, SK, Kinoshita, K, Kobayashi, S, Korpar, S, Križan, P, Krokovny, P, Kulasiri, R, Kumar, S, Kwon, YJ, Lange, JS, Leder, G, Lee, SH, Li, J, Limosani, A, Lu, RS, MacNaughton, J, Majumder, G, Mandl, F, Marlow, D, Matsumoto, S, Matsumoto, T, Mitaroff, W, Miyabayashi, K, Miyabayashi, Y, Miyake, H, Moloney, GR, Mori, T, Nagamine, T, Nagasaka, Y, Nakadaira, T, Nakano, E, Nakao, M, Nam, JW, Neichi, K, Nishida, S, Nitoh, O, Noguchi, S, Nozaki, T, Ogawa, S, Ohshima, T, Okabe, T, Okuno, S, Olsen, SL, Onuki, Y, Ostrowicz, W, Ozaki, H, Pakhlov, P, Palka, H, Park, CW, Park, H, Park, KS, Perroud, JP, Peters, M, Piilonen, LE, Root, N, Rybicki, K, Sagawa, H, Sakai, Y, Sakamoto, H, Satapathy, M, Satpathy, A, Schneider, O, Schrenk, S, Schwanda, C, Semenov, S, Senyo, K, Seuster, R, Shibuya, H, Shwartz, B, Sidorov, V, Singh, JB, Soni, N, Stanič, S, Sumisawa, K, Sumiyoshi, T, Suzuki, K, Suzuki, S, Suzuki, SY, Swain, SK, Tajima, H, Takahashi, T, Takasaki, F, Tamai, K, Tamura, N, Tanaka, J, Tanaka, M, Taylor, GN, Teramoto, Y, Tokuda, S, Tomoto, M, Tomura, T, Trabelsi, K, Trischuk, W, Tsuboyama, T, Tsukamoto, T, Uehara, S, Ueno, K, Uno, S, Ushiroda, Y, Varner, G, Varvell, KE, Wang, CC, Wang, CH, Wang, JG, Wang, MZ, Watanabe, Y, Won, E, Yabsley, BD, Yamada, Y, Yamaguchi, A, Yamashita, Y, Yamauchi, M, Yanai, H, Yashima, J, Yokoyama, M, Yuan, Y, Yusa, Y, Zhang, CC, Zhang, J, Zhang, ZP, Zheng, Y, Zhilich, V & Žontar, D 2003, 'Measurement of the electroweak penguin process B → X_sℓ⁺ℓ^-', Physical review letters, vol. 90, no. 2, 021801, pp. 021801/1-021801/6.

Measurement of the electroweak penguin process B → X_sℓ⁺ℓ^-. / Kaneko, J.; Abe, K.; Abe, K.; Abe, T.; Adachi, I.; Ahn, B. S.; Aihara, H.; Akatsu, M.; Asano, Y.; Aso, T.; Aulchenko, V.; Aushev, T.; Bakich, A. M.; Ban, Y.; Banas, E.; Bartel, W.; Bay, A.; Behera, P. K.; Bondar, A.; Bozek, A.; Bračko, M.; Brodzicka, J.; Browder, T. E.; Casey, B. C.K.; Chang, P.; Chao, Y.; Chen, K. F.; Cheon, B. G.; Chistov, R.; Choi, Y.; Choi, Y. K.; Danilov, M.; Dong, L. Y.; Eidelman, S.; Eiges, V.; Enari, Y.; Everton, C. W.; Fang, F.; Fujii, H.; Fukunaga, C.; Gabyshev, N.; Garmash, A.; Gershon, T.; Guo, R.; Haba, J.; Handa, F.; Hara, T.; Harada, Y.; Hastings, N. C.; Hayashii, H.; Hazumi, M.; Heenan, E. M.; Higuchi, I.; Higuchi, T.; Hinz, L.; Hojo, T.; Hoshi, Y.; Hou, W. S.; Huang, H. C.; Igaki, T.; Igarashi, Y.; Iijima, T.; Inami, K.; Ishikawa, A.; Ishino, H.; Itoh, R.; Iwasaki, H.; Iwasaki, Y.; Jang, H. K.; Kang, J. H.; Kang, J. S.; Katayama, N.; Kawai, H.; Kawakami, Y.; Kawamura, N.; Kawasaki, T.; Kichimi, H.; Kim, D. W.; Kim, Heejong; Kim, H. J.; Kim, H. O.; Kim, Hyunwoo; Kim, S. K.; Kinoshita, K.; Kobayashi, S.; Korpar, S.; Križan, P.; Krokovny, P.; Kulasiri, R.; Kumar, S.; Kwon, Y. J.; Lange, J. S.; Leder, G.; Lee, S. H.; Li, J.; Limosani, A.; Lu, R. S.; MacNaughton, J.; Majumder, G.; Mandl, F.; Marlow, D.; Matsumoto, S.; Matsumoto, T.; Mitaroff, W.; Miyabayashi, K.; Miyabayashi, Y.; Miyake, H.; Moloney, G. R.; Mori, T.; Nagamine, T.; Nagasaka, Y.; Nakadaira, T.; Nakano, E.; Nakao, M.; Nam, J. W.; Neichi, K.; Nishida, S.; Nitoh, O.; Noguchi, S.; Nozaki, T.; Ogawa, S.; Ohshima, T.; Okabe, T.; Okuno, S.; Olsen, S. L.; Onuki, Y.; Ostrowicz, W.; Ozaki, H.; Pakhlov, P.; Palka, H.; Park, C. W.; Park, H.; Park, K. S.; Perroud, J. P.; Peters, M.; Piilonen, L. E.; Root, N.; Rybicki, K.; Sagawa, H.; Sakai, Y.; Sakamoto, H.; Satapathy, M.; Satpathy, A.; Schneider, O.; Schrenk, S.; Schwanda, C.; Semenov, S.; Senyo, K.; Seuster, R.; Shibuya, H.; Shwartz, B.; Sidorov, V.; Singh, J. B.; Soni, N.; Stanič, S.; Sumisawa, K.; Sumiyoshi, T.; Suzuki, K.; Suzuki, S.; Suzuki, S. Y.; Swain, S. K.; Tajima, H.; Takahashi, T.; Takasaki, F.; Tamai, K.; Tamura, N.; Tanaka, J.; Tanaka, M.; Taylor, G. N.; Teramoto, Y.; Tokuda, S.; Tomoto, M.; Tomura, T.; Trabelsi, K.; Trischuk, W.; Tsuboyama, T.; Tsukamoto, T.; Uehara, S.; Ueno, K.; Uno, S.; Ushiroda, Y.; Varner, G.; Varvell, K. E.; Wang, C. C.; Wang, C. H.; Wang, J. G.; Wang, M. Z.; Watanabe, Y.; Won, E.; Yabsley, B. D.; Yamada, Y.; Yamaguchi, A.; Yamashita, Y.; Yamauchi, M.; Yanai, H.; Yashima, J.; Yokoyama, M.; Yuan, Y.; Yusa, Y.; Zhang, C. C.; Zhang, J.; Zhang, Z. P.; Zheng, Y.; Zhilich, V.; Žontar, D.

In: Physical review letters, Vol. 90, No. 2, 021801, 17.01.2003, p. 021801/1-021801/6.

Research output: Contribution to journal › Article › peer-review

TY - JOUR

T1 - Measurement of the electroweak penguin process B → Xsℓ+ℓ-

AU - Kaneko, J.

AU - Abe, K.

AU - Abe, T.

AU - Adachi, I.

AU - Ahn, B. S.

AU - Aihara, H.

AU - Akatsu, M.

AU - Asano, Y.

AU - Aso, T.

AU - Aulchenko, V.

AU - Aushev, T.

AU - Bakich, A. M.

AU - Ban, Y.

AU - Banas, E.

AU - Bartel, W.

AU - Bay, A.

AU - Behera, P. K.

AU - Bondar, A.

AU - Bozek, A.

AU - Bračko, M.

AU - Brodzicka, J.

AU - Browder, T. E.

AU - Casey, B. C.K.

AU - Chang, P.

AU - Chao, Y.

AU - Chen, K. F.

AU - Cheon, B. G.

AU - Chistov, R.

AU - Choi, Y.

AU - Choi, Y. K.

AU - Danilov, M.

AU - Dong, L. Y.

AU - Eidelman, S.

AU - Eiges, V.

AU - Enari, Y.

AU - Everton, C. W.

AU - Fang, F.

AU - Fujii, H.

AU - Fukunaga, C.

AU - Gabyshev, N.

AU - Garmash, A.

AU - Gershon, T.

AU - Guo, R.

AU - Haba, J.

AU - Handa, F.

AU - Hara, T.

AU - Harada, Y.

AU - Hastings, N. C.

AU - Hayashii, H.

AU - Hazumi, M.

AU - Heenan, E. M.

AU - Higuchi, I.

AU - Higuchi, T.

AU - Hinz, L.

AU - Hojo, T.

AU - Hoshi, Y.

AU - Hou, W. S.

AU - Huang, H. C.

AU - Igaki, T.

AU - Igarashi, Y.

AU - Iijima, T.

AU - Inami, K.

AU - Ishikawa, A.

AU - Ishino, H.

AU - Itoh, R.

AU - Iwasaki, H.

AU - Iwasaki, Y.

AU - Jang, H. K.

AU - Kang, J. H.

AU - Kang, J. S.

AU - Katayama, N.

AU - Kawai, H.

AU - Kawakami, Y.

AU - Kawamura, N.

AU - Kawasaki, T.

AU - Kichimi, H.

AU - Kim, D. W.

AU - Kim, Heejong

AU - Kim, H. J.

AU - Kim, H. O.

AU - Kim, Hyunwoo

AU - Kim, S. K.

AU - Kinoshita, K.

AU - Kobayashi, S.

AU - Korpar, S.

AU - Križan, P.

AU - Krokovny, P.

AU - Kulasiri, R.

AU - Kumar, S.

AU - Kwon, Y. J.

AU - Lange, J. S.

AU - Leder, G.

AU - Lee, S. H.

AU - Li, J.

AU - Limosani, A.

AU - Lu, R. S.

AU - MacNaughton, J.

AU - Majumder, G.

AU - Mandl, F.

AU - Marlow, D.

AU - Matsumoto, S.

AU - Matsumoto, T.

AU - Mitaroff, W.

AU - Miyabayashi, K.

AU - Miyabayashi, Y.

AU - Miyake, H.

AU - Moloney, G. R.

AU - Mori, T.

AU - Nagamine, T.

AU - Nagasaka, Y.

AU - Nakadaira, T.

AU - Nakano, E.

AU - Nakao, M.

AU - Nam, J. W.

AU - Neichi, K.

AU - Nishida, S.

AU - Nitoh, O.

AU - Noguchi, S.

AU - Nozaki, T.

AU - Ogawa, S.

AU - Ohshima, T.

AU - Okabe, T.

AU - Okuno, S.

AU - Olsen, S. L.

AU - Onuki, Y.

AU - Ostrowicz, W.

AU - Ozaki, H.

AU - Pakhlov, P.

AU - Palka, H.

AU - Park, C. W.

AU - Park, H.

AU - Park, K. S.

AU - Perroud, J. P.

AU - Peters, M.

AU - Piilonen, L. E.

AU - Root, N.

AU - Rybicki, K.

AU - Sagawa, H.

AU - Sakai, Y.

AU - Sakamoto, H.

AU - Satapathy, M.

AU - Satpathy, A.

AU - Schneider, O.

AU - Schrenk, S.

AU - Schwanda, C.

AU - Semenov, S.

AU - Senyo, K.

AU - Seuster, R.

AU - Shibuya, H.

AU - Shwartz, B.

AU - Sidorov, V.

AU - Singh, J. B.

AU - Soni, N.

AU - Stanič, S.

AU - Sumisawa, K.

AU - Sumiyoshi, T.

AU - Suzuki, K.

AU - Suzuki, S.

AU - Suzuki, S. Y.

AU - Swain, S. K.

AU - Tajima, H.

AU - Takahashi, T.

AU - Takasaki, F.

AU - Tamai, K.

AU - Tamura, N.

AU - Tanaka, J.

AU - Tanaka, M.

AU - Taylor, G. N.

AU - Teramoto, Y.

AU - Tokuda, S.

AU - Tomoto, M.

AU - Tomura, T.

AU - Trabelsi, K.

AU - Trischuk, W.

AU - Tsuboyama, T.

AU - Tsukamoto, T.

AU - Uehara, S.

AU - Ueno, K.

AU - Uno, S.

AU - Ushiroda, Y.

AU - Varner, G.

AU - Varvell, K. E.

AU - Wang, C. C.

AU - Wang, C. H.

AU - Wang, J. G.

AU - Wang, M. Z.

AU - Watanabe, Y.

AU - Won, E.

AU - Yabsley, B. D.

AU - Yamada, Y.

AU - Yamaguchi, A.

AU - Yamashita, Y.

AU - Yamauchi, M.

AU - Yanai, H.

AU - Yashima, J.

AU - Yokoyama, M.

AU - Yuan, Y.

AU - Yusa, Y.

AU - Zhang, C. C.

AU - Zhang, J.

AU - Zhang, Z. P.

AU - Zheng, Y.

AU - Zhilich, V.

AU - Žontar, D.

PY - 2003/1/17

Y1 - 2003/1/17

N2 - The branching fraction for the inclusive decay Β→Xsℓ+ℓ- was measured. A data sample collected at the Υ(4S) resonance with the Bell detector at the KEKB e+e- asymmetric-energy collider was used. Overall, the results are in agreement with the standard model (SM) expectations and can be used to constrain extensions of the SM.

AB - The branching fraction for the inclusive decay Β→Xsℓ+ℓ- was measured. A data sample collected at the Υ(4S) resonance with the Bell detector at the KEKB e+e- asymmetric-energy collider was used. Overall, the results are in agreement with the standard model (SM) expectations and can be used to constrain extensions of the SM.

UR - http://www.scopus.com/inward/record.url?scp=79961019145&partnerID=8YFLogxK

UR - http://www.scopus.com/inward/citedby.url?scp=79961019145&partnerID=8YFLogxK

M3 - Article

AN - SCOPUS:79961019145

VL - 90

SP - 021801/1-021801/6

JO - Physical Review Letters

JF - Physical Review Letters

SN - 0031-9007

IS - 2

M1 - 021801

ER -