Time-frequency diagnosis, condition monitoring, and fault detection

E. J. Powers, Y. J. Shin, W. Mack Grady, J. F. Böhme, S. Carstens-Behrens, A. Papandreou-Suppappola, F. Hlawatsch, G. F. Boudreaux-Bartels, A. Beghdadi, R. Iordache, Boualem Boashash, A. Djebbari, S. Ouelha, D. M. Onchis